c-Alice

以 AI 驅動的影像分類技術,實現最佳化製程控制與快速根因分析。

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c-Alice

以 AI 驅動的影像分類技術,實現最佳化製程控制與快速根因分析。

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采用 AI 解鎖每張影像的價值

c-Alice 是一款以 AI 驅動的影像分類應用程式,專為依賴多系統高量影像數據進行品質管控的複雜生產環境而設計。

分析結果可即時傳送至您的 IoT 資料平台或報告與控制工具,確保在需要的時間與位置取得所需資訊,進而實現製程最佳化與快速根因分析。

"在快速導入我們的系統後,我們即可使用 c-Alice 在製造流程中的多個監測點自動評估影像。
這款應用程式操作簡單,工程師與技術人員能夠自行設定並實現各自的應用場景。
透過使用 c-Alice,我們已能在早期階段發現多項製程問題,並透過顯著提升良率而節省了可觀的成本。"

Dejan Simic 量測部主管,Semikron-Danfoss

"透過 c-Alice,我們能夠更準確且可靠地評估檢測流程中產生的數據。
我們可以偵測出製造過程中不同層級的錯誤,了解其發生的位置,並判斷這些錯誤是否最終影響產品品質。
我們的專家能以簡單直覺的方式運用 AI 方法,並將專業知識轉化為所謂的「配方(recipe)」,這些配方可透過簡易的工作流程進行建立、設定、訓練、發布與實際應用。"

Jörg Amelung, Juliane Weise 廠區經理,缺陷密度工程師,Fraunhofer IPMS

為什麼選擇 c-Alice?

  • 將影像轉化為決策洞察

  • 適用各類影像類型

  • 支援多種應用場景

  • 操作簡單 – 無需 AI 專業知識

  • 降低成本與資源消耗 – 快速投資回報

  • 快速根因分析 – 減少缺陷,提升良率

安排示範

快速且精準的 AI 驅動影像分類,秒級完成

  • 分類任務(已知缺陷):識別並分類影像中的缺陷類型,同時降低誤報率。
  • 異常檢測(未知缺陷):偵測超出預先定義缺陷範疇的意外偏差。
  • 模式分析:辨識缺陷圖與晶圓圖中的特徵模式。
  • 物件檢測:進行計數、位置驗證及完整性檢查。
  • 更多功能:隨著我們持續因應客戶需求與生產挑戰,不斷新增新的應用能力。

 

操作簡單
量身打造

c-Alice 的所有設計皆以工程師與技術人員的直覺操作為出發點——無需 AI 知識或程式編碼。系統能以最高彈性,適應您的生產環境。

適用性強

適用各類檢測/顯微影像、晶圓圖、測試圖以及其他影像。

輕鬆設定

輕鬆調整、監控及擴展 AI 模型,無需深入的 AI 知識。

效率卓越

低維護需求,提高產能並減少人力需求。

完全透明化,適用於…

影像管理

用於整理影像及其元資料並進行分類。

訓練結果

用於改進、監控或部署已訓練的配方。

配方管理

用於版本管理、整理及部署配方,確保完整可追溯性。

結果處理

將結果數據精準傳送到您所需的位置。

運用 AI 加速回饋循環,提高生產品質並節省資源。

安排示範