c-Alice

基于 AI 的图像分类,用于优化过程控制与加速根因分析。

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c-Alice

基于 AI 的图像分类,用于优化过程控制与加速根因分析。

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采用 AI 解锁每张图像的价值

c-Alice 是一款由 AI 驱动的图像分类应用,专为复杂生产环境设计。
它可处理来自多个系统的大量图像数据,支持质量检测与控制。

分析结果可直接发送至您的 IoT 数据平台 或各类报表与控制工具,
在恰当的时间与地点提供所需信息,从而实现 优化的过程控制快速的根因分析

"在快速完成与我们基础设施的集成后,我们能够使用 c-Alice 在制造流程的多个监控点自动评估图像。
该应用程序操作简便,工程师和技术人员可自行配置并实现各自的应用场景。
通过使用 c-Alice,我们已在早期阶段识别出多个工艺问题,并通过显著提升良率,节省了可观的成本。"

Dejan Simic 计量部门主管,Semikron-Danfoss

"借助 c-Alice,我们能够更准确、更可靠地评估在检测过程中生成的数据。
我们可以识别出生产流程中不同阶段的错误,了解这些问题出现的层级,并判断它们是否最终影响产品。
我们的专家能够以简单直观的方式应用 AI 方法,并将他们的专业知识转化为所谓的“配方(recipes)”,
这些配方可以通过简易的工作流程进行创建、配置、训练、发布和实施。"

Jörg Amelung, Juliane Weise 生产现场经理, 缺陷分析工程师, Fraunhofer IPMS

为什么选择 c-Alice?

  • 将图像转化为可用于决策的洞察

  • 兼容各类图像类型

  • 支持多种应用场景

  • 操作简便 —— 无需 AI 专业知识

  • 降低成本与资源投入 —— 快速实现投资回报(ROI)

  • 快速根因分析 —— 减少缺陷、提升良率

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几秒之间,实现快速、精准的 AI 图像识别。

  • 分类任务(已知缺陷):识别并分类图像中的缺陷类型,降低误报率。
  • 异常检测(未知缺陷):识别超出预定义缺陷类别的意外偏差。
  • 模式分析:识别缺陷图谱与晶圆图中的特征模式。
  • 目标检测:执行计数、位置验证与完整性检查。
  • 更进一步:我们持续扩展新功能,以满足客户需求和生产挑战的不断演进。

 

易于使用
量身打造

c-Alice 的所有功能均以直观方式为工程师和技术人员设计,无需 AI 知识或编程技能。
系统能够以最大灵活性适配您的生产环境。

适用性强

适用于各种类型的检测 / 显微成像、晶圆图、测试图及其他图像类型。

易于使用

无需深入的 AI 知识,即可轻松调整、监控和扩展 AI 模型。

效率高

低维护需求,提高产能,
减少人员投入。

信息全透明

图像管理

用于整理图像及其元数据并进行分类。

训练结果

用于改进、监控或部署已训练的配方。

配方管理

用于对配方进行版本管理、整理和部署,实现完整可追溯性。

结果处理

将结果数据精确传送到所需位置。

利用 AI 加速反馈循环,提高生产质量并节约资源。

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